JEM-2100 - аналитический электронный микроскоп, включающий в себя базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, систему компьютерного управления, в которую интегрировано устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300).Разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом). Столик образцов (гониометрический) дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале.Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка, вместе с превосходной электронно-оптической системой, позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом).Новая конструкция шасси колонны существенно снижает влияние вибраций на прибор.Аналитический электронный микроскоп: В энергодисперсионной системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0,28 стерад и угле сбора 24.1°, что позволяет производить высоко точный анализ и быстрый набор данных микроанализа.Столик образцов: Столик образцов (гониометрический) дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале.