Оборудование МИСиС

Информация

Производитель:	JEOL, Япония
Вид измерений/испытаний:	Определение оптико-физических величин
Тип оборудования:	IonSlicer
Назначение:	Приборы для микроскопических исследований
Технические характеристики:	Система Ion Slicer предназначена для подготовки образцов к исследованиям в растровых и просвечивающих электронных микроскопах путем ионного утонения. Отличительной особенностью данного прибора является то, что он не требует приготовления диска, утоненного в центре. Предварительная пробоподготовка для Ion Slicer заключается лишь в изготовлении параллелепипеда размерами 2.8мм х 0.5мм х 0.1мм, который затем закрывается с тонкого широкого конца специальной защитной лентой и утоняется пучком ионов аргона. Энергия пучка не превышает 8 кВ, а угол падения – 6 ° по отношению к наибольшей грани образца. Это позволяет минимизировать радиационные повреждения и тем самым сохранить исходные структуру и фазовый состав образца, а после этого изучить их методами электронной микроскопии. Процесс утонения контролируется по изображению, получаемому с CCD-камеры и управляется при помощи персонального компьютера. Ion Slicer крайне эффективен для обработки мягких материалов, неоднородных твердых растворов, минералов, композитов, керамик, пористых структур и т.п. Ускоряющее напряжение от 1 до 8kV Угол до 6°(0.1°step) Диаметр пучка 500 μm(FWHM) Скорость травления 5 μm/min (8 kV, silicon) Рабочий газ Argon Рекомндуемый размер образца 2.8mm x 0.5 mm x 0.1mm
Место размещения:	Б, 017
Подразделение:	Учебно-научный центр "Международная школа микроскопии"
Контакты:	Марьина Г.Е.
Требуемые квалификации:
Ориентировочная стоимость нормочаса:
Ссылка на прохождение обучения:

Вход

Логин:
Пароль:
	Запомнить