Два источника рентгеновского излучения: 2.2 кВт рентгеновская трубка (медный анод) и 80 Вт источник с точечным фокусом, замкнутая система охлаждения, защитный кожух, обеспечивающий безопасную работу оператора;
- кристаллодержатель, на котором возможно крепление и исследования 200 мм пластин: диапазон перемещения по осям X и Y - 150 мм с точностью ± 5мкм; по оси Z – 12 мм и ± 5мкм, соответственно;
- точность перемещения по осям ω и 2θ - 0,055 угл. с;
- компьютери-зированная система управления прибором, которая дает возможность быстро перестраивать оптическую схему прибора, создавать сценарий эксперимента и контролировать его ход без участия оператора;
- возможность быстрой перестройки оптической схемы дифрактометра позволяет за короткий промежуток времени провести комплексное рентгеноструктурное исследование образца;
- детектор с большим динамическим диапазоном (107);
- наличие компьютерной системы управления прибором удаленно через Интернет и высокая стабильность по времени позволяют использовать D1System 24 часа в сутки.

На приборах возможна работа со следующими рентгенодифракционными методами:
- дифракция высокого разрешения для исследования гетероэпитаксиальных структур;
- трехкристальная рентгеновская дифрактометрия для исследования гетероэпитаксиальных структур, кластеров точечных дефектов в объемных кристаллах;
- рентгеновская рефлектометрия для определения состава слоев и гладкости межслойных границ;
- рентгеновская дифракция в низком разрешении (качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок).