Поиск



Фото Наименование Подразделение Назначение Технические характеристики Проведение измерений, испытаний, исследований
Картинка 1
Гониометр-спектрометр ГС-2 МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" Оборудование для оптических измерений и исследований (кроме микроскопов и телескопов) Рабочий диапазон длин волн (460 - 680) нм.
Диапазон величин показателя преломления не ограничен.
Диапазон измерения плоских углов (0 - 360)°.
Пределы допускаемой погрешности при измерении любого углового интервала ± 2″		 Заказать работу
Картинка 1
Измеритель массовых концентраций аэрозольных частиц Кафедра техносферной безопасности Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Принцип измерения: оптический, работающий по принципу рассеянного света
Диапазон измерения: 0... 100 мг/м3
Размер частиц: 0,2... 10 мкм		 Заказать работу
Картинка 1
Интерферометр типа Физо ИФ-77 МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" Оборудование для оптических измерений и исследований (кроме микроскопов и телескопов)

Бесконтактный метод. Диаметр измеряемых пластин до 120 мм, правильность интерферометра 0,05 инт. полос. Источник излучения - гелий-неоновый лазер l = 0,63 мкм. Измеряемые параметры – отклонение от плоскостности бесконтактным методом от 0,03 до десятков микрометров.

 Заказать работу
Картинка 1
Люксметр Аргус 01 Кафедра техносферной безопасности Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Диапазон освещенности: 1– 200000 Лк
Погрешность измерения: 10%
Спектральный диапазон: 0,38 - 0,8 мкм		 Заказать работу
Картинка 1
Люксметр-яркомер Аргус 12 Кафедра техносферной безопасности Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Диапазон измерения освещенности: 10 – 200000 Лк
Диапазон измерения яркости: 1 – 200000 Кд/м2
Погрешность измерения: 8%
Спектральный диапазон: 0,38 - 0,8 мкм		 Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп инстументальный ИМЦ 100х50,А МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" Приборы для микроскопических исследований

Точность измерений - габаритных размеров ±6 мкм - углов ±3° Образцы размером до 150 мм, измерение угловых размеров до 360°.

 Заказать работу
Картинка 1
Оптический микроскоп Axiovert 25СA НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН Приборы для микроскопических исследований Металлографический инвертированный микроскоп отраженного света Axiovert 25СА имеет объективы Epiplan-Neofluar HD 10х, 20х, 50х, 100х (DIC). Они имеют просветляющие покрытие для предотвращения световых рефлексов и относятся к ICS оптике (ICS Infinity Color-Corrected System). Эти объективы проецируют изображение на бесконечность, и лишь тубусная линза создает изображение на расстоянии 164,5 мм, что позволяет получать изображение без линейных искажений.
Микроскоп снабжен цифровой ПЗС-камерой CX05 (ПЗС- прибор с зарядовой связью, от англ. CCD – charge-coupled device). В качестве сенсора используется Progressive Scan Matrix ICX07AL (Sony) c разрешением 780 х 582 = 0,5 Мпикс. Электронный затвор камеры с диапазоном экспозиции от 1/4000 до 10с позволяет работать в условиях слабой освещенности. Максимальная частота кадров 8,7 кадр/с или 18 кадр/с при уменьшенном разрешении, что позволяет непрерывно наблюдать изображение при перемещении предметного столика с образцом. Управление цифровой камерой осуществляется с помощью программного обеспечения «Мастер структура 4.0» фирмы «ВидеоТест».		 Заказать работу
Картинка 1
Пульсметр-люксметр Аргус 07 Кафедра техносферной безопасности Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Диапазон измерения освещенности: 10 – 200000 Лк
Коэффициент пульсации: 1 - 100 %
Погрешность измерения: 8%
Спектральный диапазон: 0,38 - 0,8 мкм		 Заказать работу
Картинка 1
Твердотельный лазер с диодной накачкой Научно-технологический и учебный центр акустооптики Оборудование для оптических измерений и исследований (кроме микроскопов и телескопов) Для оптических работ. Длина волны 532 нм.
Предназначен для таких приложений, как: голография, рассеяние Бриллюэна и в спектроскопии комбинационного рассеяния света. Во время работы лазера возможно изменение частоты излучения резонатора из-за влияния температуры. Однако используя три температурных регулятора PID возможно минимизировать влияние температуры на точность излучения генератора. В дополнение к этому, цифровой блок питания лазерной системы в реальном времени получает сигнал от лазера, который сотни раз в секунду сообщает реальные показатели рабочей длины волны. В результате при любых отклонениях блок питания реагирует, изменяя питающее лазер напряжение, тем самым корректируя работу генератора и стабилизируя излучение.		 Заказать работу
Картинка 1
Установка ионного утонения образцов JEOL IonSlicer для просвечивающей электронной микроскопии Учебно-научный центр "Международная школа микроскопии" Приборы для микроскопических исследований Система Ion Slicer предназначена для подготовки образцов к исследованиям в растровых и просвечивающих электронных микроскопах путем ионного утонения. Отличительной особенностью данного прибора является то, что он не требует приготовления диска, утоненного в центре. Предварительная пробоподготовка для Ion Slicer заключается лишь в изготовлении параллелепипеда размерами 2.8мм х 0.5мм х 0.1мм, который затем закрывается с тонкого широкого конца специальной защитной лентой и утоняется пучком ионов аргона. Энергия пучка не превышает 8 кВ, а угол падения – 6 ° по отношению к наибольшей грани образца. Это позволяет минимизировать радиационные повреждения и тем самым сохранить исходные структуру и фазовый состав образца, а после этого изучить их методами электронной микроскопии. Процесс утонения контролируется по изображению, получаемому с CCD-камеры и управляется при помощи персонального компьютера. Ion Slicer крайне эффективен для обработки мягких материалов, неоднородных твердых растворов, минералов, композитов, керамик, пористых структур и т.п. Ускоряющее напряжение от 1 до 8kV Угол до 6°(0.1°step) Диаметр пучка 500 μm(FWHM) Скорость травления 5 μm/min (8 kV, silicon) Рабочий газ Argon Рекомндуемый размер образца 2.8mm x 0.5 mm x 0.1mm

Заказ работ временно недоступен
Картинка 1
УФ-радиометр Кафедра техносферной безопасности Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Приборы предназначены для раздельного измерения энергетической освещённости в областях УФ-спектра:
(200 - 280) нм — зона УФ-С;
(280 - 315) нм — зона УФ-В;
(315 - 400) нм — зона УФ-А.		 Заказать работу
Картинка 1
Яркометр-фотометр Аргус 02 Кафедра техносферной безопасности Оборудование для оптических измерений и исследований (кроме микроскопов и телескопов) Диапазон измерения яркости: 1 – 200000 Кд/м2
Погрешность измерения: 10%
Спектральный диапазон: 0,38 - 0,8 мкм		 Заказать работу
В начало
Вход