Поиск



Фото Наименование Подразделение Назначение Технические характеристики Проведение измерений, испытаний, исследований
Картинка 1
Автоматический анализатор серы и углерода Leco CS-230IH Научно-образовательный центр "Инновационные металлургические технологии" Оборудование для исследования с использованием хроматографических методов анализа Определение содержания серы и углерода.
Диапазон определения, %:
1) углерода 0,0004-3,5; 2) серы 0,0004-0,4. П
отребляемые газы Газоноситель:
Кислород 99.6% 40 psi (2.76 атм).
Пневматика: cжатый воздух, азот или аргон.
Заказать работу
Картинка 1
Анализатор портативный Mettler Toledo MX-300 Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Для измерения рН, удельной электрической проводимости (УЭП), концентрации растворенного кислорода, концентрации ионов в различных жидких средах с одновременным измерением температуры для применения в фармацевтической, пищевой, химической, металлургической и других отраслях промышленности. Заказать работу
Картинка 1
Анализатор теплопроводности Netzsch LFA 447 NanoFlash Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для реализации физико-химических и химических процессов Температурный диапазон: комнатная до 300 °C
Диапазон температуропроводности: от 0,01 до 1000 мм2
Диапазон теплопроводности: от 0,1 до 2000 Вт/(м•К)
Заказать работу
Картинка 1
Анализатор углерода и серы в органических материалах SC-144DR НУИЛ "Физико-химия угля" Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее - рабочие диапазоны при навеске 350 мг:
сера 5 ppm или от 0,0005 % до 26 %, углерод 50 ppm или 0,0050 % до 100 %;
- точность: сера 1 %, углерод 1 %;
- чувствительность 1 ppm;
- калибровка по одной точке или по нескольким точкам (линейная, квадратичная или кубическая)
- время анализа 90 секунд
- метод детектирования - инфракрасная абсорбция
- температура печи 400...1450 °С, 1350 °C - номинальная температура.
Заказать работу
Картинка 1
Анализатор углерода, водорода и азота TruSpec CHN micro НУИЛ "Физико-химия угля" Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее - система автоподачи проб на 30 ячеек;
- продолжительность одного измерения не более 5 минут.
Углерод:
- диапазон измерений 0,002-100 % с точностью не выше 0,001 % или 1 % от среднего результата;
- тип датчика: ИК-ячейка.
Водород:
- диапазон измерений 0,02-50 % с точностью не выше 0,01 % или 1 % от среднего результата;
- тип датчика: ИК-ячейка.
Азот:
- диапазон измерений 0,02-50 % с точностью не выше 0,01 % или 1 % от среднего результата;
тип датчика: ячейка теплопроводности.
Заказать работу
Картинка 1
Анализатор удельной поверхности и пористости Quantachrome Nova 1200e Межкафедральная лаборатория наноматериалов Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие Диапазон измеряемых площадей: 0,01 ÷ свыше 2000 м2
Снятие изотерм адсорбции и десорбции
Диапазон диаметров пор: 3,5 ÷ 2000
Заказать работу
Картинка 1
Аналитический исследовательский комплекс ARL 9900 X-Ray WorkStation Межотраслевой учебно-научный центр по утилизации химических источников тока Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Комплексная лаборатория в одном приборе: XRF + XRD
Анализ элементов от B до U (от ppm до 100%)
Высокая степень автоматизации и цифрового контроля
Возможность как рутинного, так и бесстандартного анализа
Выбор параметров генератора в зависимости от поставленной задачи: 1200 Вт, 2500 Вт, 3600 Вт, 4200 Вт Rh анод трубки
Заказать работу
Картинка 1
Атомно-силовой сканирующий зондовый микроскоп AIST-NT SmartSPM-1000 Учебно-научный центр "Международная школа микроскопии" Приборы для микроскопических исследований

Полностью автоматизированный СЗМ:
- позволяет производить автоматическую настройку прибора перед началом измерений;
Высокоскоростной 100 мкм сканер:
- (резонансные частоты сканера больше, чем 7 кГц по XY и 15 кГц по Z), емкостные датчики, обеспечивающие высокую линейность и точное позиционирование;
Регистрирующая система с ИК лазером:
- с длиной волны 1300 нм позволяет измерять широкий диапазон образцов с высоким разрешением, включая образцы чувствительные к видимому свету. С таким лазером пользователь может проводить измерения флуоресценции или рамановского излучения одновременно с АСМ сканированием без перекрестных помех;

Улучшенный контроль обратной связи:
- с активным устранением отставания по фазе по XY, перескоков и «звона» сканера при быстром сканировании без динамического искажения изображения;Режим True Non-contact - и специальная процедура для безопасного подвода зонда к образцу;
Цифровой модульный контроллер - с быстрым DSP, USB интерфейсом и возможностью расширения функциональности.

► Автоматическая настройка регистрирующей системы SmartSPM освобождает пользователя от рутинных операций, а также обеспечивает повторяемость настройки вне зависимости от его опыта;

► SmartSPM предоставляет возможность выбора оптимального места наведения регистрирующего лазера, а также возможность тестирования отражающей поверхности кантилевера перед началом измерений;

► Моторизация позиционирования образца в горизонтальной плоскости позволяет пользователю легко находить область, в которой необходимо производить сканирование;

► В автоматическом режиме пользователю необходимо лишь указать основные параметры зонда и поле сканирования для того, чтобы SmartSPM произвел полную настройку системы, подвел зонд к поверхности образца и начал сканирование;

► Минимальное время обучения, а также возможность быстрого старта измерений (меньше, чем за 5 минут!) делает SmartSPM идеальным решением для университетов, где прибор используется в многопользовательском режиме;

► Благодаря встроенному в программное обеспечение языку программирования Lua, пользователь имеет возможность адаптировать прибор под свои специфические задачи, а также организовать серию автоматизированных измерений в различных точках поверхности образца;

► Встроенный макроязык для программирования DSP позволяет создавать собственные алгоритмы сканирования, снятия силовых кривых, а также процедуры нанолитографии.

Заказать работу
Картинка 1
Блок фотометрического титрования к комплекту Титрион-1 НУИЛ "Физико-химия угля" Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее - фотометрическая ячейка, под стандартный стеклянный стакан, вместимостью 50 см3;
- встроенная магнитная мешалка;
- метод титрования – фотометрический;
- рабочие длины волн 375, 400, 430, 470, 505, 525, 572, 590, 605, 615, 626, 655, 700, 850, 880, 940 нм.
Заказать работу
Картинка 1
Быстордействующий бомбовый калориметр сжигания БКС-2х Кафедра порошковой металлургии и функциональных покрытий Изучение и измерение свойств веществ и материалов

Предназначен для измерения энергии сгорания образцов.
Рабочая температура калориметра 32 ±1 °C;
Диапазон измеряемой теплоты 103 … 104 Дж;
Предел допускаемой основной относительной погрешности при измерении количества теплоты ±0,2 %;
Объем калориметрической бомбы 157 см3;
Максимальное рабочее давление в бомбе до 39•105 Па

Заказать работу
Картинка 1
Визкозиметр Rheomat RM100 Научно-исследовательский центр композиционных материалов Оборудование для реализации физико-химических и химических процессов Универсальный ротационный вискозиметр с высокоточной измерительной системой, построенной без использования пружин.
Скорости вращения: 34 скорости.
Диапазон крутящего момента: от 0.05 до 30 мН•м.
Температура: от -20 до 120°C.
Диапазон измерения вязкости:от 1 мПа•с до 510 M мПа•с
Заказать работу
Картинка 1
Вискозиметр Brookfield DV3T 5НВ Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Предназначен для определения вязкости жидкости;
- диапазон измерений – 4 Па*с – 1,6*10^6 Па*с.
Заказать работу
Картинка 1
Вискозиметр Brookfield DV3T LV Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Предназначен для определения вязкости жидкости;
- диапазон измерений – 0,001 Па*с – 6000 Па*с.
Заказать работу
Картинка 1
Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL OPTIM'X Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Спектрометр позволяет с высокой точностью провести элементный анализ в диапазоне от F до U твердых, порошковых и жидких проб.
Модель для определения элементов от F до U в твердых, порошковых и жидких пробах. В комплект спектрометра входят:
• Рентгеновская трубка мощностью 50 Вт с Rh мишенью и окном толщиной 75 мкм;
• Источник питания 50 Вт на максимальное напряжение 50 кВ или максимальный ток 2 мА;
• Гониометр SmartGonio: Фиксированный коллиматор (среднее угловое расхождение) Держатель кристаллов с 3 установленными кристаллами: AX-06, PET и LiF200 2 детектора: проточно-пропорциональный и сцинтилляционный.
Заказать работу
Картинка 1
ИК Фурье спектрометр IFS 66v/S Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков Оборудование для исследования и анализа методом оптической спектроскопии Позволяет осуществлять съемку спектров пропускания и поглощения в диапазоне частот от 20 до 40000 см-1, а также рамановских спектров в диапазоне частот от 50 до 3500 см-1. Разрешение: выше 0.25 см-1 Электрическое напряжение: 120±12 В или 230±11.5 В, 50/60 Гц. Интерферометр: интерферометр Майкельсона с высоким выходом и автоматической центровкой. Источники: SiC глобар (стандарт), водоохлаждаемый; FIR, NIR и UV_VIS. Вакуум: менее 3 мбар внутри оптической системы. Заказать работу
Картинка 1
Комплекс оборудования ТеТеМ для послеростовой подготовки поверхности (фемтосекундная система; установка плазмохимической обработки) ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие В комплекс оборудования для послеростовой подготовки поверхности входят:
1. Фемтосекундная система ООО «Авеста» (Россия)
Предназначена для импульсного воздействия на образцы световым излучением высокой интенсивности (1010 и более Вт/см2) с целью структурной модификации материала, возбуждения электронной подсистемы, в том числе за счет реализации режима многофотонного поглощения, а также для ассистирования процесса роста тонких пленок методом высокочастотного магнетронного распыления.
Технические характеристики:
Длины волн излучения: 800 нм, 400 нм и 267 нм
Частота повторения до 1 кГц
Энергия импульса на первой гармонике >3,5 мДж
Длительность импульса < 50 фс

2. Установка плазмохимической обработки «ТеТеМ» (Россия)
Источник плазмы предназначен для активизации газовых реакций при пониженном давлении (1...10 Па) и позволяет генерировать ионы рабочего газа плотностью 1011 см-3. Источник плазмы состоит из трех взаимосвязанных устройств: реактор, ВЧ генератор и газовая система. Газовая система состоит из двух независимых каналов для подачи в зону реакции смеси газа-носителя и рабочего газа-прекурсора. В состав каждого канала входит полный комплект газовых элементов, необходимых для регулирования, управления и контроля газового потока. Подключение дополнительного высокочастотного генератора (и согласующего устройства соответственно) к подложкодержателю, не соединенного с корпусом установки, позволяет независимо от основного источника разряда корректировать энергию ионов.

Заказ работ временно недоступен

Картинка 1
Лазерный анализатор размеров частиц Fritsch Analysette-22 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Лазерный дифракционный анализатор распределения частиц по размерам в диапазоне 0,01 - 2000 мкм Заказать работу
Картинка 1
Лазерный анализатор частиц MicroSizer 201C Кафедра цветных металлов и золота Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие • Диапазон размеров частиц: 0,2-600 мкм;
• Источник излучения: He-Ne лазер с мощностью излучения не менее 1.5 мВт и длинной волны излучения 0.63 мкм;
• Детектор: Фотодиодная матрица;
• Количество каналов регистрации: 38;
•Объем камеры для образца: 120 мл;
• Частота ультразвукового излучения: 50 кГц;
• Мощность ультразвукового излучения: до 200 Вт
• Объем пробы до 150 мл;
• Возможность регулировки мощности ультразвука: от 50 до 200 Вт.
Заказать работу
Картинка 1
Масспектрометр QMS 403 CF Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Технические характеристики QMS 403 СF:
- Диапазон массовых чисел: 1 а.е.м. ... 300 а.е.м.;
- Ионный источник: электронный удар, энергия 100 эB;
- 2 Y2O3 -катоды с иридиевым покрытием;
- Датчик: Фарадея и SEV (Канальный электронный умножитель);
- Вакуумная система: турбомолекулярный и диафрагменный насосы;
- Кварцевый капилляр, диаметром 75 мкм, в металлической трубке;
- Регулятор нагрева, капилляр, система напуска газа и МС работают до 300°C;
- Система удаления газа из печи анализатора;
- Ионный источник (высокая чувствительность, высокий эксплуатационный ресурс)
Заказать работу
Картинка 1
Машина испытательная разрывная Instron 150 LX НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Оборудование для определения механических свойств и величин - Максимальное усилие 15 тонн;
- Максимальная скорость деформирования 228 мм/мин;
- Наличие различных датчиков деформации: видео- и навесного экстензометра, объемной деформации;
- Захваты для плоских и цилиндрических образцов;
- Наличие программного обеспечения.
Заказать работу
Картинка 1
Металлографический оптический микроскоп Carl Zeiss AxioLab с программным обеспечением Tixomet НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Приборы для микроскопических исследований Общее увеличение микроскопа: х50 - х1000
Увеличение объективов: х5; х10; х20; х40; х50; х100
Увеличение окуляров и поле зрения: PL х10/20 Br и PL х10/22 Br
Доступные методы контраста: светлое/тёмное поле, стан./круг. поляризация, стан./круг. ДИК, флуоресценция.
Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп «Axio Imager» M1m, Carl Zeiss МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" Приборы для микроскопических исследований

Автоматизированный микроскоп типа «Axio Imager M1m» с техническими характеристиками не хуже: – увеличение не менее 50х; – апертура не менее 0,8. Видеокамера типа «uEye UI – 146x» с техническими характеристиками не хуже: - увеличение не менее 10х. Технические возможности прибора: – исследование материалов на отражение света; – исследование материалов на просвет; – исследование материалов в поляризованном свете. Постоянная микроскопа – постоянная Малляра для данной системы: К=0,006 ". Общее увелич. от 50 до 1000х, 7 объективов, проходящий, отражённый свет.

Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп Axio Imager A1 Кафедра цветных металлов и золота Приборы для микроскопических исследований Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), поляризация, люминесценция;
Окуляры: 10 х/20; 10 х/23; 16 х/16;
Револьверное устройство для крепления 6 или 7 объективов;
Насадки бинокулярная, бинокулярная насадка с фото / видеовыходом; угол наклона окулярных трубок - 30 , 20 (с возможностью перемещения на 55 мм), 15 (эргономическая насадка)
Предметный столик: координатный; поворотный (240); вращающийся (360); сканирующий; нагревательный, право – или левостороннее управление
Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп инвертированный металлографический Carl Zeiss AXIOVERT 40 MAT Межкафедральная лаборатория наноматериалов Приборы для микроскопических исследований Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп металлографический AXIOSCOP 40 НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Приборы для микроскопических исследований Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM. Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп металлографический METAM PB-22 НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН Приборы для микроскопических исследований Увеличение микроскопа от 50 до 1000; Цена деления шкал: предметного столика 1мм, нониуса механизма 0,1мм, микрометрической фокусировки 0,002м; Максимальная нагрузка 1 кг; Источник света - Лампа накаливания РН8-20-1 Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп металлографический Neophot-32 НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН Приборы для микроскопических исследований Увеличение микроскопа, крат: от 10 до 2000,
Диапазон вращения столика, град.: от 0 до 360,
Размеры фотопластинок, см: 9 х 12, 13 х 18,
Размер кадра фотопленки, мм: 24 х 36,
Источники света: галогенная лампа 12В – 100Вт,
Ксеноновая лампа ХВО 101.
Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп металлографический оптический AxioScope (с программным обеспечением Tixomet) НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Приборы для микроскопических исследований Общее увеличение микроскопа: х12,5 - х1000
Увеличение объективов: х1,25, х2,5, х5, х10, х20, х40, х50, х63 и х100
Увеличение окуляров и поле зрения: W-PL х10/23 мм
Доступные методы контраста светлое/тёмное поле, стан./круг. поляризация, стан./круг./Plas ДИК, флуоресценция.
Программное обеспечение Tixomet
Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп модульный ВХ51 НУИЛ "Физико-химия угля" Приборы для микроскопических исследований - микроскоп проходящего/отраженного света;
- общее увеличение х75-х1500;
- объективы для работы в воздушной и иммерсионных (водной и масляной) средах;
- поворотный столик (360°), поляризаторы для отраженного/проходящего света и поворотный анализатор для работы в поляризационном свете;
- тринокулярный тубус трехпозиционный (100 % окуляры - 50/50 % окуляры/камера - 100 % камера);
- комплекс для автоматического петрографического анализа «Lucia Vitrinit», предназначенный для измерения произвольного и максимального/минимального показателя отражения, петрографического анализа углей, пористости и толщины стенок кокса.
Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп просвечивающий электронный JEOL JEM-2100 ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы для микроскопических исследований

JEM-2100 - аналитический электронный микроскоп, включающий в себя базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, систему компьютерного управления, в которую интегрировано устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300).
Разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом). Столик образцов (гониометрический) дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале.

Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка, вместе с превосходной электронно-оптической системой, позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом).
Новая конструкция шасси колонны существенно снижает влияние вибраций на прибор.
Аналитический электронный микроскоп: В энергодисперсионной системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0,28 стерад и угле сбора 24.1°, что позволяет производить высоко точный анализ и быстрый набор данных микроанализа.
Столик образцов: Столик образцов (гониометрический) дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале.

Заказать работу
Картинка 1
Микроскоп растровый электронный низковакуумный JSM-6480LV ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы для микроскопических исследований

Ускоряющее напряжение – от 0,3 до 30 кэВ;
Разрешение в режиме с низким вакуумом – 4,0 нм;
Разрешение в режиме с высоким вакуумом - 3,0 нм;
Увеличение в режиме с низким вакуумом - От 5 до 300 000;
Увеличение в режиме с высоким вакуумом от 5 до 300 000.

Многоцелевой сканирующий (растровый) микроскоп JSM-6480LV сочетает в себе возможности работы как в стандартном, так и в LV режимах.
Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, а также образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов.
Прибор оснащен дополняющими друг друга аналитическими приставками для комплексного анализа поверхности:
- спектрометрами с энергетической и волновой дисперсией (EDS) для определения химического состава;
- детектором обратно рассеянных электронов (EBSD) для исследования микроструктуры и текстуры (построение карт поверхности образца с определением зёренной структуры, анализом спектра разориентировок границ зёрен; построение полюсных фигур).

Заказать работу
Картинка 1
Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System ЦКП "Материаловедение и металлургия" Оборудование для исследования строения вещества дифракционными методами

Два источника рентгеновского излучения: 2.2 кВт рентгеновская трубка (медный анод) и 80 Вт источник с точечным фокусом, замкнутая система охлаждения, защитный кожух, обеспечивающий безопасную работу оператора;
- кристаллодержатель, на котором возможно крепление и исследования 200 мм пластин: диапазон перемещения по осям X и Y - 150 мм с точностью ± 5мкм; по оси Z – 12 мм и ± 5мкм, соответственно;
- точность перемещения по осям ω и 2θ - 0,055 угл. с;
- компьютери-зированная система управления прибором, которая дает возможность быстро перестраивать оптическую схему прибора, создавать сценарий эксперимента и контролировать его ход без участия оператора;
- возможность быстрой перестройки оптической схемы дифрактометра позволяет за короткий промежуток времени провести комплексное рентгеноструктурное исследование образца;
- детектор с большим динамическим диапазоном (107);
- наличие компьютерной системы управления прибором удаленно через Интернет и высокая стабильность по времени позволяют использовать D1System 24 часа в сутки.

На приборах возможна работа со следующими рентгенодифракционными методами:
- дифракция высокого разрешения для исследования гетероэпитаксиальных структур;
- трехкристальная рентгеновская дифрактометрия для исследования гетероэпитаксиальных структур, кластеров точечных дефектов в объемных кристаллах;
- рентгеновская рефлектометрия для определения состава слоев и гладкости межслойных границ;
- рентгеновская дифракция в низком разрешении (качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок).

Заказать работу
Картинка 1
Мультигазоанализатор МХ2100 Кафедра техносферной безопасности Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Газоанализатор МХ 2100 предназначен для работы при следующих условиях эксплуатации:

-температура окружающей среды – от - 20 + 40 0С.

-относительная влажность воздуха – от 15 до 98 %.

-запыленность анализируемой среды – не более 1 г/м3.

-атмосферное давление – от 90 – 110 кПа
;
-изменение пространственного положения относительно вертикального – до 90 град.


Диапазоны измерений и пределы допускаемой погрешности:


Определяемый компонент / Диапазон измерений / Пределы допускаемых пределов основной погрешности, %
............приведенной...........относительной
Кислород О2.................0 - 5 % об.д................... ± 5........................5 - 30% об.д...............± 5

Оксид углерода СО............0 - 1000 ррм ........± 10
Диоксид углерода СО2.......0 - 5 %....................± 5
Метан СН4......................0 - 2,5 % об.д...............± 10......................2,5 – 5 % об.д............± 10

Предельные углеводороды.....0 – 50 %НКПР......± 10..................50 – 100 % НКПР.....± 10
Заказать работу
Картинка 1
Оже-спектрометр электронный PHI 680 Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Метод электронной Оже-спектроскопии:
Исследование элементного состава твердофазных материалов методом электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) основано на анализе энергетического распределения Оже-электронов, эмитированных с поверхности вещества в вакууме при его возбуждении электронным пучком.

Информативность метода
- идентификация всех химических элементов, кроме водорода и гелия,
- полуколичественный анализ,
- определение химического состояния элемента,
- высокая локальность ~10 нм,
- глубина анализа от 5 до 50 A,
- чувствительность метода – 1-3 ат.%
Технические возможности установки определяются уникальным сочетанием высокодисперсионного цилиндрического анализатора с системой электростатических линз, ограничивающих область анализа, многоканального детектора Оже-электронов, уникального источника электронов. Ионная пушка с дифференциальной откачкой, встроенная в камеру анализа, позволяет очищать поверхности образцов от адсорбированных на воздухе примесей, а также осуществлять ионное травление образцов на глубину порядка 1 мкм. Низкое давление остаточных газов в камере анализа обеспечивается работой ионных насосов с высокой скоростью откачки, а также системой загрузки образца, предусматривающей предварительную его откачку в специальной камере и ввод образца в тестовую камеру без заметного повышения давления. Наличие устройства для скола образцов позволяет получать атомарно чистые поверхности в сверхвысоком вакууме.
Заказать работу
Картинка 1
Полевой эмиссионный растровый электронный микроскоп JSM-6700F с приставкой энергодисперсионного микроанализатора JED-2300F фирмы «JEOl» ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы для микроскопических исследований Источник первичных электронов – холодноэмиссионная полевая пушка.
Разрешение:
- 3.5 nm при 15 кВ;
- 0,22 нм при 1 кВ.
Ускоряющее напряжение – 0,5-30 кВ.
Максимальный размер образца 200х200 мм, устойчивое сверхвысокое разрешение по всей площади объекта.
Рабочее расстояние – 1,5-25 мм.
Вакуум в:
- области источника 10-8 Па
- в камере 10-5 Па
Разрешение EDS – 133 эВ.
Анализируемые элементы от B до U (количественный анализ).

Высокое разрешение и высокое качество изображения позволяют проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур благодаря электронной пушке с холодным катодом, сверхвысокому вакууму и усовершенствованным цифровым технологиям. Приставка для энергодисперсионной спектрометрии JED-2300F позволяет осуществлять качественный и количественный анализ состава твердотельных структур с использованием метода энергодисперсионной спектрометрии. Использование программного обеспечения «Analysis Station» в операционной системе WINDOWS XP предполагает два варианта количественного анализа:
1 Функция «Дифференциальный фильтр + Метод наименьших квадратов + ZAF метод» использует справочные спектры элементов,
2 Функция «QBase» выполняет анализ, используя стандартные спектры минералов.

Заказать работу
Картинка 1
Прибор для измерения вязкости AND SV-100 Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Назначение и область применения
AND SV-100 - это вибрационный вискозиметр, который обеспечивают широкий диапазон, высокую точность и оперативность измерений. Область применения - измерение динамической вязкости различных жидких сред в реальном масштабе времени при проведении научных исследований, а также на предприятиях химической, нефтеперерабатывающей, пищевой, фармацевтической парфюмерной и других отраслей промышленности.
Принцип действия:
Измерения вязкости проводятся с помощью метода камертонной вибрации. За основу измерений берётся величина электрического тока, необходимая для того, чтобы поддерживать постоянную амплитуду вибрации сенсорных пластин вискозиметра в жидкой среде. Подобный метод позволяет проводить измерения в режиме реального времени с отслеживанием изменений вязкости и температуры образца, что и обеспечивает широкие функциональные возможности данных приборов. Метод измерения : метод камертонной вибрации; Частота вибрации сенсорных пластин 30 Гц; Диапазон измерения 1 – 100 Па•c; Точность измерения вязкости ±5% (1000 – 100 000 мПа•c); Единица измерения вязкости Па•c, П; Повторяемость 1%
Минимальный размер пробы 35 мл
Измерение температуры 0 - 160°С (шаг 0,1°С)
Точность измерения температуры 0-20°С: ±1°С
20-30°С: ±0,5°С
30-100°С: ±2°С
100-160°С: ±4°С
Габаритные размеры, мм Основное устройство: 332 х 314 х 536
Выносной дисплей: 238 х 132 х 120
Масса прибора, кг, не более Основное устройство: 5
Выносной дисплей: 1,3
Тип дисплея Вакуумно-флуоресцентный
Стандартный комплект поставки адаптер, диск с ПО, 4 чашки для образцов AX-SV-33,
кабель RS-232C (25 pin-9 pin)
Интерфейс Cтандартный RS-232C
Источник электрического питания От сети 220 В, через адаптер
Диапазон рабочих температур, °С от +10 до +40
Заказать работу
Картинка 1
Прибор синхронного термического анализа STA449 F1 Jupiter Научно-исследовательская лаборатория "Неорганические наноматериалы" Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее • На данном приборе можно быстро и всесторонне проанализировать термостойкость образца, реакции разложения, состав, фазовые переходы, процессы плавления материалов
• Легкая в использовании система вертикальной загрузки образцов, исключительно точное разрешение весов (разрешение 25 нг в диапазоне взвешивания 5г)
• Взаимозаменяемые сенсоры для ДСК измерений с самой высокой чувствительностью и воспроизводимостью как для температур реакции/перехода и энтальпий, так и для теплоемкости.
• Различные печи, легко взаимозаменяемые пользователем (дополнительное самоориентирующееся двойное спускоподъемное устройство для двух печей)
• Съемные держатели образцов (ТГ, ТГ-ДСК, ТГ-ДТА, и.т.д.)
• Автоматическое загрузочное устройство на 20 образцов
• Функция Autovac: автоматическая откачка газа и автозаполнение газом
• Множество различных принадлежностей, например, тигли различного размера, формы и выполенииые из различных метериалов
• Уникальная возможность для СТА: температурно-модулированное ДСК (TM-ДСК)"
Температура нагрева до 1500°С.
Заказать работу
Картинка 1
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее - Два источника рентгеновского излучения: 2,2 кВт рентгеновская трубка (медный анод) и 80 Вт источник с точечным фокусом, замкнутая система охлаждения, защитный кожух, обеспечивающий безопасную работу оператора; - приставка для рентгенотопографических исследований с системой анализа изображения; - кристаллодержатель, на котором возможно крепление и исследования 200 мм пластин: диапазон перемещения по осям X и Y – 150 мм с точностью ± 5 мкм; по оси Z – 12 мм и ± 5 мкм, соответственно; - точность перемещения по осям w и 2q - 0,055 угл. с; - компьютеризированная система управления прибором, которая дает возможность быстро перестраивать оптическую схему прибора, создавать сценарий эксперимента и контролировать его ход без участия оператора; - возможность быстрой перестройки оптической схемы дифрактометра позволяет за короткий промежуток времени провести комплексное рентгеноструктурное исследование образца; - детектор с большим динамическим диапазоном (107). Заказать работу
Рентгеновский микроанализатор Oxford Instruments INCA Energy 350 X-Max20 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Предназначен для проведения энергодисперсионного микроанализа для растрового электронного микроскопа Заказать работу
Картинка 1
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI 5000 VersaProbe II ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие

Сканирующий рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI 5000 VersaProbe II предназначен для исследования химического состава на поверхности твердых тел с возможностью визуализации поверхности исследуемых объектов во вторичных электронах, формирования карт химического состояния и профилирования по глубине.
Информативность метода РФЭС:
- идентификация всех химических элементов, кроме H, He;
- определение химического состояния элемента;
- средняя глубина анализа – 5 нм;
- чувствительность метода – 0,1-0,3 ат.%.
Требования к образцам:
Исследование химического состава может осуществляться на образцах твердых неорганических и органических материалов, электропроводящих и диэлектриков. Образцы не должны содержать летучие компоненты, способные существенно нарушить вакуум в камере прибора при температуре исследования.
Образцы могут быть в виде порошков, покрытий, волокон, пластин и др. формах.
Для крепления образцов используются держатели из нержавеющей стали четырех типов:
- держатель диаметром 25,4 мм с плоской поверхностью для крепления образцов диаметром не более 25,4 мм и высотой не более 2 мм;
- держатель диаметром 25,4 мм с прямоугольным углублением 20х10х5 мм для объемных образцов высотой не более 7 мм;
- держатель диаметром 60 мм с плоской поверхностью для крепления образцов диаметром не более 50 мм и высотой не более 2 мм, или для нескольких образцов меньших размеров;
- специальный держатель на 4 позиции для плоских образцов с линейными размерами до 7х7 мм и высотой не более 1,5 мм.
Технические характеристики основных компонентов спектрометра:
Источник монохроматического рентгеновского излучения Al Kα (1486,6 эВ) обеспечивает растровое сканирование образца сфокусированным рентгеновским пучком, что позволяет получать изображение поверхности во вторичных электронах и точно локализовать области анализа. Область анализа определяется диаметром сфокусированного рентгеновского пучка - от 9 до 200 мкм, в растровом режиме максимальная площадь составляет 0,6 мм2.
Энергетический анализатор полусферического типа обеспечивает многофункциональный анализ, включая сбор спектров, картирование, профили по глубине и анализ с угловым разрешением. Энергетическое разрешение, определенное как ПШПВ пика Ag 3d5/2, не хуже 0,50 эВ.
Ионная пушка Floating column Ar+ ion gun - моноатомный источник ионов аргона, обеспечивает максимальный ток ионного пучка ≥ 5 мкА при энергии 5 кэВ, максимальный размер растра 8*8 мм², скорость травления при стандартном рабочем режиме (энергия 2 кэВ и растр 1х1 мм²) на SiO2 составляет 15 нм/мин.
Аргонная кластерная ионная пушка Ar2500+ GCIB, использующая для травления кластеры из 2500 атомов аргона, обеспечивает максимальный ток ионного пучка ≥ 40 нА при энергии 20 кВ. Скорость травления при стандартном рабочем режиме (энергия 2 кэВ и растр 2х2 мм²) на SiO2 составляет 2,6 нм/мин.
Преимущество кластерной пушки над моноатомной пушкой заключается в том, что Ar2500+ GCIB позволяет исключить или свести к минимуму явления деструкции образца, вызванные ионным травлением, что позволяет использовать её для удаления поверхностных загрязнений, как с неорганических, так и с органических материалов.
Аналитическая камера оснащена системой откачки, обеспечивающей остаточное давление в аналитической камере не более 6,7x10-8 Па.

Заказать работу
Картинка 1
Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный спектрометр UNISPEC SP1 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Элементный анализ.
Тип образцов – твердые жидкие, порошковые, пленки, фильтры.
Диапазон определяемых элементов от Na до U.
Чувствительность: от 1 ppm.
Рентгеновская трубка Rh, 45 кВ.
Заказать работу
Картинка 1
рН-метр Mettler Toledo Seven multi Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Диапазон измерения pH -2,000 … 20,000
-Относительная погрешность pH ±0,002
-Дискретность pH (задается пользователем) 0,001/0,01/0,1
-Диапазон измерения мВ -2000,0 … 2000,0
-Относительная погрешность мВ ±0,2
-Дискретность мВ (задается пользователем) 0,1/1
-Диапазон измерения концентрации ионов 1,00E-9 … 9,99E+9
-Точность измерения концентрации ионов ±0,5%
-Температурный диапазон MTC -30,0 … 130,0°C
-Температурный диапазон ATC -5,0 … 130,0°C
-Точность измерения температуры ±0,1°C
-Дисплей 4,3', цветной TFT
-Внешний источник питания 9-12 В/10 Вт
Заказать работу
Картинка 1
Сепаратор просеивающий СПЭ Кафедра порошковой металлургии и функциональных покрытий Оборудование для физических и физико-химических методов разделения Предназначен для определения гранулометрического состава порошковых и зернистых проб сыпучих материалов при лабораторных исследованиях. Состоит из вибратора с электромагнитным приводом, набора сит, зажимного устройства и реле, устанавливающего продолжительность технологического режима работы. Для равномерного распределения материала по всей поверхности сеток и сокращения времени просева имеются наклонные элементы. Наличие размыкателя позволяет при необходимости прерывать процесс рассева на 2 ± 1 с.
Технические характеристики: Крупность просеиваемого материала 2,5-0,04 мм; Размер сита: диаметр 200 мм; высота 25,5 мм; Число одновременно устанавливаемых сит до 10; Производительность просеиваемых проб массой 100 г - 5 проб/ч; Максимальная амплитуда колебаний по вертикали 3 мм
Заказать работу
Картинка 1
Синхронный ТГ-ДТА/ДСК анализатор STA 409 Luxx Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Технические характеристики STA 409 PC Luxx:
- Загрузка системы сверху;
- Печь SiC (RT … 1550°C);
- Скорости нагрева 0 … 50 K/мин;
- Сенсоры TG – DTA;
- Термопары образца Тип S;
- Температурный интервал RT … 1550°C;
- Масса образца до 18 г;
- Предел измерения весов 18 г;
- Атмосферы - инертная, воздух;
- Вакуум 10-4 мбар.
Заказать работу
Система анализа поверхности органических, гибридных и биоматериалов ЦКП "Материаловедение и металлургия" Оборудование для изучения живых систем

Заказ работ временно недоступен

Картинка 1
Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D Stand Аlone (Asylum Research) ЦКП "Материаловедение и металлургия" Приборы для микроскопических исследований

Микроскоп MFP 3DStand Аlone позволяет решать задачи в области физики, химии, материаловедения, исследования полимеров, нанолитографии, биологии и количественного анализа поверхности на наномасштабе.
Основные характеристики XY сканера:
Область сканирования: 90 мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
Размер образцов: до 8,6х3,8 см, что позволяет использовать стандартные предметные и покровные стекла;
Уровень шума: не более 0,5 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 кГц);
Нелинейность: не более 0,5% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи).
Основные характеристики Z сканера
Диапазон перемещения: 15 мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
Высота образцов: до 10 мм
Уровень шума датчиков: не более 0,25 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 кГц);
Нелинейность: не более 0,05% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи);
Уровень шума сканнера: не более 60 пм (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц)

Заказать работу
Картинка 1
Сканирующий ионный микроскоп Strata FIB 205 System фирмы «FEI Company» ЦКП "Материаловедение и металлургия" Оборудование и приборы для масс-спектрометрии

Возможность готовить ультратонкие пробы (толщиной до 50 нм) для просвечивающего электронного микроскопа на локальных участках образца. Модификация и восстановление микросхем.
Гарантированный минимальный размер канавки травления 100нм, минимально достигаемый – 10 нм².
Ионная пушка - галлиевая жидкометаллическая. Изменение размеров ионного пучка в пределах 5-500 нм с автоматической запрограм-мированной сменой апертур (не менее 10 ступеней).
Диапазон изменения тока ионного пучка: 1-10нА, плотность тока до 50А/см² , нестабильность пучка менее 5%/час .
Вакуум в исследовательской камере ~1,3•10-6 мбар после 24-х часовой откачки. Вакуум в камере ионной пушки < 4•10-7 мбар.
Время откачки исследовательской камеры ~ 210 сек до 10-4 мбар.
Максимальные размеры образца: диаметр 80 мм или площадь 55 мм², высота до 25 мм, вес до 150 г. 
5 степеней свободы стола-держателя (X, Y±25 мм, Z 25мм, поворот 3600, наклон -10 +450).
Источники для осаждения платины и ионно-стимулированного травления диэлектриков.

Заказать работу
Картинка 1
Сканирующий электронный микроскоп HITACHI TM-1000 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Приборы для микроскопических исследований Ускоряющее напряжение: 15кВ.
Увеличение: х20-10 000.
Разрешение: 30 нм.
Глубина резкости: 0,5 мм.
Детектор: Твердотельный детектор обратнорассеяных электронов.
Размер области обзора: X=15 мм, Y=18 мм.
Максимальный размер образца: 70 мм в диаметре, 20 мм в высоту.
Режимы: обычный (5•10-2 Па) или низкого вакуума ((30-50)•10-2 Па) для наблюдения образцов с низкой проводимостью или содержащих влагу биологических образцов.
Заказать работу
Картинка 1
Сканирующий электронный микроскоп JSM7600F с системой микроанализа (ЭДС) Научно-исследовательская лаборатория "Неорганические наноматериалы" Приборы для микроскопических исследований Термополевой катод (Шоттки), объективная линза с низкими аберрациями и высокая стабильность обеспечивают высокое разрешение и тонкий зонд даже при высоких токах пучка (свыше 200 нА при 15кВ).
Разрешение до 1 нм.
Заказать работу
Картинка 1
Совмещенный электро-акустический спектрометр Matec Zeta-APS Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для акустических измерений Совмещенный акустический и электроакустический спектрометр для анализа дзета-потенциала водных и органических жидкостей и определения распределения по размерам частиц суспензий, коллоидов и т.п.
Методы анализа дзета-потенциала и распределения частиц по размерам: акустическая спектроскопия и электроакустический метод.
Диапазон рабочих частот: не уже 1-100 МГц.
Измерение распределения частиц по размерам, дзета-потенциала, концентрации твердой фазы, рН, проводимости, температуры, спектры скоростей и затухания звуковых волн.
Диапазон размеров частиц: от 10 нм до 100 мкм
Содержание дисперсной фракции: диапазон не уже 0,1 - 50%.
Тип образцов: водные растворы, пигменты, чернила, минералы, эмульсии, оксиды металлов, катализаторы, наночастицы, фармацевтические препараты, биодисперсии и др.
Заказать работу
Картинка 1
Спектрометр ИК–Фурье Thermo NICOLET 380 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Для сочетания с TGA, химический анализ продуктов разложения полимеров и др.
Спектральный диапазон не менее 7 400 – 350 см-1
Разрешение лучше 0,9 см-1
Соотношение сигнал-шум не хуже 20,000 : 1 (пик к пику при 1 минуте сканирования), сигнал-шум RMS 100,000:1
Точность по волновому числу 0,01 см-1
Заказать работу
Картинка 1
Спектрометр оптико-эмиссионный Bruker Q4 Tasman НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Стационарный настольный оптико-эмиссионный спектрометр на базе новейшей технологии CCD (ПЗС), является идеальной аналитической системой для спектрального анализа металлов и сплавов и применяется в условиях исследовательских лабораторий и цеха. Спектрометр особенно подходит для входного контроля металлических материалов, на спектрометр можно одновременно установить калибровки для спектрального анализа металлов и сплавов на 7-ми наиболее важных металлических основах: Fe, Al, Cu, Ni, Co, Ti, V. Заказать работу
Картинка 1
Спектрометр оптический эмиссионный Profiler-2 НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Оптический эмиссионный спектрометр тлеющего разряда PROFILER-2 производства компании HORIBA Jobin Yvon (Франция) предназначен для поверхностного и послойного элементного анализа покрытий и объёмных материалов. Позволяет одновременно количественно определять широкий спектр элементов, в т. ч. газовые (N, O, H, Cl, F) и щелочные (Na, Li, K, Cs).
Спектрометр оснащен ВЧ генератором, позволяющим проводить анализ в импульсном режиме, что обеспечивает возможность исследования материалов различной природы. В качестве образцов для анализа могут быть использованы как проводящие (металлы, сплавы, тугоплавкие соединения металлов), так и непроводящие материалы, в том числе хрупкие (оксидная керамика, стекла) и разлагающиеся при нагреве (полимеры).
Спектрометр подходит для изучения различных покрытий, нанесенных вакуумными методами, диффузионным насыщением, лакокрасочных, газотермических, гальванических и др. Прибор может быть использован для исследования процессов высокотемпературного окисления, диффузионных процессов, электрохимической коррозии.

Количество каналов – до 47, Спектральный диапазон - 110-620 (до 900) нм, Тип генератора – ВЧ, Полихроматор – Пашена-Рунге, Фокусное расстояние – 0,5 м, Решётка полихроматора – 2400 штр/мм, Система автоматического сканирования – Polyscan, Чувствительность – 1*10-4 ат. %, Детекторы – HDD, Зона анализа – 4 мм, Спектральное разрешение в УФ-области – лучше 0,018 нм, Программное обеспечение – Quantum XP, Глубина анализа – до 200 мкм, Разрешение по глубине – до 1-2 нм.
Заказать работу
Картинка 1
Спектрофотометр «CARY 5000» UV-VIS-NIR с приставками «DRA-2500», «Vasra», «UMA» МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" Оборудование для исследования и анализа методом оптической спектроскопии Спектральный диапазон измерений (175 – 3300) нм.
Ппредел погрешности по шкале длин волн в диапазоне (175 - 900) нм - не хуже 0,1 нм, в диапазоне (900 - 3300) нм - не хуже 0,4 нм.
Приставкка "DRA" Спектр. диапазон – 250 – 2500 нм, спектр. разрешение – 0,05 нм (ViS), 0,2 нм (NIR);
погрешность установки длин волн –
± 0,1 нм (UV-ViS)
± 0,4 нм (NIR)
Приставки для измерения диффузного («DRA-2500») и зеркального («Vasra») отражения.
Заказать работу
Картинка 1
Спектрофотометр Genesys 10S UVVis Лаборатория разделения и концентрирования в химической диагностике функционнальных материалов и объектов окружающей среды Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее 1) диапазон измерений спектрального коэффициента направленного пропускания – от 1,0 до 100 %;
2) диапазон показаний спектрального коэффициента направленного пропускания – от 0 до 125 %;
3) рабочий диапазон длин волн – 190-1100 нм;
4) источник света – ксеноновая импульсная лампа;
5) спектральная ширина щели 1,8 нм.
Заказать работу
Картинка 1
Спектрофотометр Thermo Scientific Helios Alpha Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Двухлучевой, на кюветы 10 мм, встроенный ЖК монитор и клавиатура управления, рабочий диапазон 190 - 1100 нм. Заказать работу
Картинка 1
Спектрофотометр СФ-103 Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Технические характеристики:
- Спектральный диапазон длин волн, нм 190-1100
- Шаг установки длины волны, нм 0.1
- Точность установки длины волны во всём диапазоне, нм ±1
- Ширина выделяемого спектрального интервала, нм 5
- Диапазон измеряемых величин коэффициента пропускания, % оптической плотности, Б
- 0 - 199,9;
- от -0,300 до 1,999
- Рассеяние при 340 нм, не более, % 0.05
- Дрейф нулевого сигнала, Б/час 0,001
- Источник света видимый диапазон
- УФ диапазон вольфрамовая галогеновая лампа дейтеривая лампа
- Электропитание, В 115/230 (±20%)
- Потребляемая мощность, не более, Вт 150
- Масса, кг 5
Условия эксплуатации: температура 15 - 30 0С; влажность 0 - 90%
Заказать работу
Картинка 1
Твердомер для измерений по Роквеллу Buehler MacroMet 5101T Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для определения механических свойств и величин Измерение для всех шкал по Роквеллу (HRC, HRB), автоматическое управление весом.
Класс точности, погрешность, %: 3.
Пределы измерений:
0 - 80 HRC,
65-110 HRB,
0-93 HRA .
Заказать работу
Картинка 1
Титратор «ТИТРИОН» - комплект для автоматического потенциометрического титрования НУИЛ "Физико-химия угля" Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее - система весового титрования;
- автоматический процесс титрования;
- метод титрования - потенциометрический;
- режим титрования - до заданной точки регистрация кривой дозирование заданного объема;
- рН-электрод ;
- Eh-электрод;
- дискретность дозирования титранта 0,005 (0,001) см3;
- максимальный объём титранта 120 (380) см3;
- скорость дозирования титранта 0,05…2 см3/мин;
- диапазон измерений ЭДС от минус 3200 до 3200 мВ ± 1,5 мВ;
- диапазон измерений рН (рХ) 0…14 ± 0,2.
Заказать работу
Картинка 1
Титратор автоматический Mettler Toledo DL15 Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Разрешающая способность по сигналу ±0,1 мВ
Диапазон измерения ±1950 мВ
Режимы и методики анализа:
Титрование до конечной точки (заданная величина рН или mV) с динамическим или инкрементным (равными порциями) добавлением титранта
Возможность выбора титрования ("Быстрый", "Нормальный", "Осторожный")
Открытые параметры
Контроль добавления титранта по времени и по равновесию
Формулы для наиболее важных вычислений заложены в прибор
Статистическая обработка (до 60 образцов)
Дозирование: Сменные бюретки объемом 1, 5, 10, 20 мл
Максимальное количество шагов дозирования на объем бюретки 1/10000
Время заполнения 20 с
Заказать работу
Картинка 1
Установка для проведения коррозионно-электрохимических испытаний VoltaLab НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Установка предназначена для изучения коррозионно-электрохимических свойств различных пар покрытие/металлическая подложка. Испытания соответствуют ISO 16429 и ГОСТ Р ИСО 10993-15-2001.
Определение кинетики изменения потенциала покрытий позволяет выполнять оценку изменения содержания активных элементов на поверхности, а изучение катодно-анодного поведения покрытий - проводить расчеты скорости коррозии и прогнозировать их поведения в паре с металлическими подложками.
Установка состоит из потенциостата, электрохимической термостатической ячейки и набора электродов.
Потенциостат VoltaLab-50 предназначен для исследования любых электрохимических процессов, в частности, процессов осаждения и растворения металлов, электродных процессов в химических источниках тока, характеристики коррозионной стойкости различных материалов, вольтамперометрического и кулонометрического определения состава веществ и проведения других электрохимические измерений.
Потенциостат имеет возможность задания потенциала или тока в стационарных и нестационарных режимах и регистрации стационарных и циклических вольтамперограмм, хроноамперограмм, хронопотенциограмм, кулонометрических кривых и проведения других электрохимических измерений.
Управление потенциостатом осуществляется с помощью компьютера под упpавлением опеpационной системы Windows. Программное обеспечение позволяет осуществлять управление измерениями на потенциостате-гальваностате и управление внешними устройствами, задание и редактирование программ_алгоритмов измерений, графическое представление и запись результатов измерений в любом из режимов работ, полный анализ данных в различных координатах, преобразование исходных данных в другие форматы для обработки в других стандартных программах.

Технические характеристики:
Наличие режима гальваностата Есть; Выносной электрометрический усилитель Есть; Выходное напряжение 30 B; Поляризация 15 В; Максимальный ток 1 А; Чувствительность по току 300 фА; Диапазон скоростей развертки 0–20 В/c; Входное сопротивление 1012 Ом; Активная IR компенсация Есть
Заказать работу
Картинка 1
Фотометр фотоэлектрический КФК-3-01 Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Диапазон длин волн, нм: 315-990
Диапазон измерения:
коэффициента пропускания, %: 0,1 - 100
оптический плотности, Б: 0-3
концентрации, ед. конц.: 0.001 - 9999
Погрешность измерения коэффициента пропускания, %: 0,5
Ширина выделяемого спектрального интервала, нм: 5-7
Внешний выход: RS-232 порт принтера
Индикация результатов измерения: цифробуквенный ЖКИ с подсветкой
Источники питания: сеть 220 В;
Потребляемая мощность, ВА, не более: 60
Габаритные размеры, мм: 500x360x165
Масса, кг, не более: 15
Габаритные размеры (с упаковкой), мм: 700x500x200
Общий вес (с упаковкой), кг: 16
Заказать работу
Картинка 1
Хроматограф газовый Кристалл 2000М Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Основные технические характеристики:
- потребляемая мощность до 900 Вт;
- масса - 34 кг;
- скорость программирования 1-50 °С/мин;
- частота 25 Гц;
- расход водорода 5…300 мл/мин;
- расход воздуха 5…800 мл/мин;
- расход газа-носителя 5…200 мл/мин;
- рабочая температура – от температуры окружающей среды +5 до 400°С;
- время охлаждения от 300 до 50°С 7 минут;
- входное давление 0,36…0,44 МПа;
- выходной сигнал 0…10 мВ;
- количество электронных регуляторов давления 1 шт;
- дискретность задания температуры 0,1°С;
- дискретность задания скорости программирования 0,1 °С/мин;
- количество изотерм - 5 шт;
- количество испарителей – до 2 шт;
- количество детекторов – до 3 шт.
Заказать работу
В начало
Вход