Фото | Наименование | Подразделение | Назначение | Технические характеристики | Проведение измерений, испытаний, исследований |
---|---|---|---|---|---|
|
Автоматический анализатор серы и углерода Leco CS-230IH | Научно-образовательный центр "Инновационные металлургические технологии" | Оборудование для исследования с использованием хроматографических методов анализа | Определение содержания серы и углерода. Диапазон определения, %: 1) углерода 0,0004-3,5; 2) серы 0,0004-0,4. П отребляемые газы Газоноситель: Кислород 99.6% 40 psi (2.76 атм). Пневматика: cжатый воздух, азот или аргон. |
Заказать работу |
|
Анализатор портативный Mettler Toledo MX-300 | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Для измерения рН, удельной электрической проводимости (УЭП), концентрации растворенного кислорода, концентрации ионов в различных жидких средах с одновременным измерением температуры для применения в фармацевтической, пищевой, химической, металлургической и других отраслях промышленности. | Заказать работу |
|
Анализатор теплопроводности Netzsch LFA 447 NanoFlash | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Оборудование для реализации физико-химических и химических процессов | Температурный диапазон: комнатная до 300 °C Диапазон температуропроводности: от 0,01 до 1000 мм2/с Диапазон теплопроводности: от 0,1 до 2000 Вт/(м•К) |
Заказать работу |
|
Анализатор углерода и серы в органических материалах SC-144DR | НУИЛ "Физико-химия угля" | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | - рабочие диапазоны при навеске 350 мг: сера 5 ppm или от 0,0005 % до 26 %, углерод 50 ppm или 0,0050 % до 100 %; - точность: сера 1 %, углерод 1 %; - чувствительность 1 ppm; - калибровка по одной точке или по нескольким точкам (линейная, квадратичная или кубическая) - время анализа 90 секунд - метод детектирования - инфракрасная абсорбция - температура печи 400...1450 °С, 1350 °C - номинальная температура. |
Заказать работу |
|
Анализатор углерода, водорода и азота TruSpec CHN micro | НУИЛ "Физико-химия угля" | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | - система автоподачи проб на 30 ячеек; - продолжительность одного измерения не более 5 минут. Углерод: - диапазон измерений 0,002-100 % с точностью не выше 0,001 % или 1 % от среднего результата; - тип датчика: ИК-ячейка. Водород: - диапазон измерений 0,02-50 % с точностью не выше 0,01 % или 1 % от среднего результата; - тип датчика: ИК-ячейка. Азот: - диапазон измерений 0,02-50 % с точностью не выше 0,01 % или 1 % от среднего результата; тип датчика: ячейка теплопроводности. |
Заказать работу |
|
Анализатор удельной поверхности и пористости Quantachrome Nova 1200e | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие | Диапазон измеряемых площадей: 0,01 ÷ свыше 2000 м2/г Снятие изотерм адсорбции и десорбции Диапазон диаметров пор: 3,5 ÷ 2000 |
Заказать работу |
|
Аналитический исследовательский комплекс ARL 9900 X-Ray WorkStation | Межотраслевой учебно-научный центр по утилизации химических источников тока | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Комплексная лаборатория в одном приборе: XRF + XRD Анализ элементов от B до U (от ppm до 100%) Высокая степень автоматизации и цифрового контроля Возможность как рутинного, так и бесстандартного анализа Выбор параметров генератора в зависимости от поставленной задачи: 1200 Вт, 2500 Вт, 3600 Вт, 4200 Вт Rh анод трубки |
Заказать работу |
|
Атомно-силовой сканирующий зондовый микроскоп AIST-NT SmartSPM-1000 | Учебно-научный центр "Международная школа микроскопии" | Приборы для микроскопических исследований | Полностью автоматизированный СЗМ: |
Заказать работу |
|
Блок фотометрического титрования к комплекту Титрион-1 | НУИЛ "Физико-химия угля" | Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее | - фотометрическая ячейка, под стандартный стеклянный стакан, вместимостью 50 см3; - встроенная магнитная мешалка; - метод титрования – фотометрический; - рабочие длины волн 375, 400, 430, 470, 505, 525, 572, 590, 605, 615, 626, 655, 700, 850, 880, 940 нм. |
Заказать работу |
|
Быстордействующий бомбовый калориметр сжигания БКС-2х | Кафедра порошковой металлургии и функциональных покрытий | Изучение и измерение свойств веществ и материалов | Предназначен для измерения энергии сгорания образцов. |
Заказать работу |
|
Визкозиметр Rheomat RM100 | Научно-исследовательский центр композиционных материалов | Оборудование для реализации физико-химических и химических процессов | Универсальный ротационный вискозиметр с высокоточной измерительной системой, построенной без использования пружин. Скорости вращения: 34 скорости. Диапазон крутящего момента: от 0.05 до 30 мН•м. Температура: от -20 до 120°C. Диапазон измерения вязкости:от 1 мПа•с до 510 M мПа•с |
Заказать работу |
|
Вискозиметр Brookfield DV3T 5НВ | Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" | Оборудование для исследования и определения физических свойств среды | Предназначен для определения вязкости жидкости; - диапазон измерений – 4 Па*с – 1,6*10^6 Па*с. |
Заказать работу |
|
Вискозиметр Brookfield DV3T LV | Научно-исследовательский центр "Термохимия материалов" | Оборудование для исследования и определения физических свойств среды | Предназначен для определения вязкости жидкости; - диапазон измерений – 0,001 Па*с – 6000 Па*с. |
Заказать работу |
|
Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL OPTIM'X | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Спектрометр позволяет с высокой точностью провести элементный анализ в диапазоне от F до U твердых, порошковых и жидких проб. Модель для определения элементов от F до U в твердых, порошковых и жидких пробах. В комплект спектрометра входят: • Рентгеновская трубка мощностью 50 Вт с Rh мишенью и окном толщиной 75 мкм; • Источник питания 50 Вт на максимальное напряжение 50 кВ или максимальный ток 2 мА; • Гониометр SmartGonio: Фиксированный коллиматор (среднее угловое расхождение) Держатель кристаллов с 3 установленными кристаллами: AX-06, PET и LiF200 2 детектора: проточно-пропорциональный и сцинтилляционный. |
Заказать работу |
|
ИК Фурье спектрометр IFS 66v/S | Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков | Оборудование для исследования и анализа методом оптической спектроскопии | Позволяет осуществлять съемку спектров пропускания и поглощения в диапазоне частот от 20 до 40000 см-1, а также рамановских спектров в диапазоне частот от 50 до 3500 см-1. Разрешение: выше 0.25 см-1 Электрическое напряжение: 120±12 В или 230±11.5 В, 50/60 Гц. Интерферометр: интерферометр Майкельсона с высоким выходом и автоматической центровкой. Источники: SiC глобар (стандарт), водоохлаждаемый; FIR, NIR и UV_VIS. Вакуум: менее 3 мбар внутри оптической системы. | Заказать работу |
|
Комплекс оборудования ТеТеМ для послеростовой подготовки поверхности (фемтосекундная система; установка плазмохимической обработки) | ЦКП "Материаловедение и металлургия" | Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие | В комплекс оборудования для послеростовой подготовки поверхности входят: 1. Фемтосекундная система ООО «Авеста» (Россия) Предназначена для импульсного воздействия на образцы световым излучением высокой интенсивности (1010 и более Вт/см2) с целью структурной модификации материала, возбуждения электронной подсистемы, в том числе за счет реализации режима многофотонного поглощения, а также для ассистирования процесса роста тонких пленок методом высокочастотного магнетронного распыления. Технические характеристики: Длины волн излучения: 800 нм, 400 нм и 267 нм Частота повторения до 1 кГц Энергия импульса на первой гармонике >3,5 мДж Длительность импульса < 50 фс 2. Установка плазмохимической обработки «ТеТеМ» (Россия) Источник плазмы предназначен для активизации газовых реакций при пониженном давлении (1...10 Па) и позволяет генерировать ионы рабочего газа плотностью 1011 см-3. Источник плазмы состоит из трех взаимосвязанных устройств: реактор, ВЧ генератор и газовая система. Газовая система состоит из двух независимых каналов для подачи в зону реакции смеси газа-носителя и рабочего газа-прекурсора. В состав каждого канала входит полный комплект газовых элементов, необходимых для регулирования, управления и контроля газового потока. Подключение дополнительного высокочастотного генератора (и согласующего устройства соответственно) к подложкодержателю, не соединенного с корпусом установки, позволяет независимо от основного источника разряда корректировать энергию ионов. |
Заказ работ временно недоступен |
|
Лазерный анализатор размеров частиц Fritsch Analysette-22 | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее | Лазерный дифракционный анализатор распределения частиц по размерам в диапазоне 0,01 - 2000 мкм | Заказать работу |
|
Лазерный анализатор частиц MicroSizer 201C | Кафедра цветных металлов и золота | Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие | • Диапазон размеров частиц: 0,2-600 мкм; • Источник излучения: He-Ne лазер с мощностью излучения не менее 1.5 мВт и длинной волны излучения 0.63 мкм; • Детектор: Фотодиодная матрица; • Количество каналов регистрации: 38; •Объем камеры для образца: 120 мл; • Частота ультразвукового излучения: 50 кГц; • Мощность ультразвукового излучения: до 200 Вт • Объем пробы до 150 мл; • Возможность регулировки мощности ультразвука: от 50 до 200 Вт. |
Заказать работу |
|
Масспектрометр QMS 403 CF | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Технические характеристики QMS 403 СF: - Диапазон массовых чисел: 1 а.е.м. ... 300 а.е.м.; - Ионный источник: электронный удар, энергия 100 эB; - 2 Y2O3 -катоды с иридиевым покрытием; - Датчик: Фарадея и SEV (Канальный электронный умножитель); - Вакуумная система: турбомолекулярный и диафрагменный насосы; - Кварцевый капилляр, диаметром 75 мкм, в металлической трубке; - Регулятор нагрева, капилляр, система напуска газа и МС работают до 300°C; - Система удаления газа из печи анализатора; - Ионный источник (высокая чувствительность, высокий эксплуатационный ресурс) |
Заказать работу |
|
Машина испытательная разрывная Instron 150 LX | НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" | Оборудование для определения механических свойств и величин | - Максимальное усилие 15 тонн; - Максимальная скорость деформирования 228 мм/мин; - Наличие различных датчиков деформации: видео- и навесного экстензометра, объемной деформации; - Захваты для плоских и цилиндрических образцов; - Наличие программного обеспечения. |
Заказать работу |
|
Металлографический оптический микроскоп Carl Zeiss AxioLab с программным обеспечением Tixomet | НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" | Приборы для микроскопических исследований | Общее увеличение микроскопа: х50 - х1000 Увеличение объективов: х5; х10; х20; х40; х50; х100 Увеличение окуляров и поле зрения: PL х10/20 Br и PL х10/22 Br Доступные методы контраста: светлое/тёмное поле, стан./круг. поляризация, стан./круг. ДИК, флуоресценция. |
Заказать работу |
|
Микроскоп «Axio Imager» M1m, Carl Zeiss | МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" | Приборы для микроскопических исследований | Автоматизированный микроскоп типа «Axio Imager M1m» с техническими характеристиками не хуже: – увеличение не менее 50х; – апертура не менее 0,8. Видеокамера типа «uEye UI – 146x» с техническими характеристиками не хуже: - увеличение не менее 10х. Технические возможности прибора: – исследование материалов на отражение света; – исследование материалов на просвет; – исследование материалов в поляризованном свете. Постоянная микроскопа – постоянная Малляра для данной системы: К=0,006 ". Общее увелич. от 50 до 1000х, 7 объективов, проходящий, отражённый свет. |
Заказать работу |
|
Микроскоп Axio Imager A1 | Кафедра цветных металлов и золота | Приборы для микроскопических исследований | Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), поляризация, люминесценция; Окуляры: 10 х/20; 10 х/23; 16 х/16; Револьверное устройство для крепления 6 или 7 объективов; Насадки бинокулярная, бинокулярная насадка с фото / видеовыходом; угол наклона окулярных трубок - 30 , 20 (с возможностью перемещения на 55 мм), 15 (эргономическая насадка) Предметный столик: координатный; поворотный (240); вращающийся (360); сканирующий; нагревательный, право – или левостороннее управление |
Заказать работу |
|
Микроскоп инвертированный металлографический Carl Zeiss AXIOVERT 40 MAT | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Приборы для микроскопических исследований | Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM | Заказать работу |
|
Микроскоп металлографический AXIOSCOP 40 | НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" | Приборы для микроскопических исследований | Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM. | Заказать работу |
|
Микроскоп металлографический METAM PB-22 | НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН | Приборы для микроскопических исследований | Увеличение микроскопа от 50 до 1000; Цена деления шкал: предметного столика 1мм, нониуса механизма 0,1мм, микрометрической фокусировки 0,002м; Максимальная нагрузка 1 кг; Источник света - Лампа накаливания РН8-20-1 | Заказать работу |
|
Микроскоп металлографический Neophot-32 | НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН | Приборы для микроскопических исследований | Увеличение микроскопа, крат: от 10 до 2000, Диапазон вращения столика, град.: от 0 до 360, Размеры фотопластинок, см: 9 х 12, 13 х 18, Размер кадра фотопленки, мм: 24 х 36, Источники света: галогенная лампа 12В – 100Вт, Ксеноновая лампа ХВО 101. |
Заказать работу |
|
Микроскоп металлографический оптический AxioScope (с программным обеспечением Tixomet) | НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" | Приборы для микроскопических исследований | Общее увеличение микроскопа: х12,5 - х1000 Увеличение объективов: х1,25, х2,5, х5, х10, х20, х40, х50, х63 и х100 Увеличение окуляров и поле зрения: W-PL х10/23 мм Доступные методы контраста светлое/тёмное поле, стан./круг. поляризация, стан./круг./Plas ДИК, флуоресценция. Программное обеспечение Tixomet |
Заказать работу |
|
Микроскоп модульный ВХ51 | НУИЛ "Физико-химия угля" | Приборы для микроскопических исследований | - микроскоп проходящего/отраженного света; - общее увеличение х75-х1500; - объективы для работы в воздушной и иммерсионных (водной и масляной) средах; - поворотный столик (360°), поляризаторы для отраженного/проходящего света и поворотный анализатор для работы в поляризационном свете; - тринокулярный тубус трехпозиционный (100 % окуляры - 50/50 % окуляры/камера - 100 % камера); - комплекс для автоматического петрографического анализа «Lucia Vitrinit», предназначенный для измерения произвольного и максимального/минимального показателя отражения, петрографического анализа углей, пористости и толщины стенок кокса. |
Заказать работу |
|
Микроскоп просвечивающий электронный JEOL JEM-2100 | ЦКП "Материаловедение и металлургия" | Приборы для микроскопических исследований | JEM-2100 - аналитический электронный микроскоп, включающий в себя базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, систему компьютерного управления, в которую интегрировано устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300). |
Заказать работу |
|
Микроскоп растровый электронный низковакуумный JSM-6480LV | ЦКП "Материаловедение и металлургия" | Приборы для микроскопических исследований | Ускоряющее напряжение – от 0,3 до 30 кэВ; |
Заказать работу |
|
Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System | ЦКП "Материаловедение и металлургия" | Оборудование для исследования строения вещества дифракционными методами | Два источника рентгеновского излучения: 2.2 кВт рентгеновская трубка (медный анод) и 80 Вт источник с точечным фокусом, замкнутая система охлаждения, защитный кожух, обеспечивающий безопасную работу оператора; |
Заказать работу |
|
Мультигазоанализатор МХ2100 | Кафедра техносферной безопасности | Оборудование для исследования и определения физических свойств среды | Газоанализатор МХ 2100 предназначен для работы при следующих условиях эксплуатации: -температура окружающей среды – от - 20 + 40 0С. -относительная влажность воздуха – от 15 до 98 %. -запыленность анализируемой среды – не более 1 г/м3. -атмосферное давление – от 90 – 110 кПа ; -изменение пространственного положения относительно вертикального – до 90 град. Диапазоны измерений и пределы допускаемой погрешности: Определяемый компонент / Диапазон измерений / Пределы допускаемых пределов основной погрешности, % ............приведенной...........относительной Кислород О2.................0 - 5 % об.д................... ± 5........................5 - 30% об.д...............± 5 Оксид углерода СО............0 - 1000 ррм ........± 10 Диоксид углерода СО2.......0 - 5 %....................± 5 Метан СН4......................0 - 2,5 % об.д...............± 10......................2,5 – 5 % об.д............± 10 Предельные углеводороды.....0 – 50 %НКПР......± 10..................50 – 100 % НКПР.....± 10 |
Заказать работу |
|
Оже-спектрометр электронный PHI 680 | Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков | Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее | Метод электронной Оже-спектроскопии: Исследование элементного состава твердофазных материалов методом электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) основано на анализе энергетического распределения Оже-электронов, эмитированных с поверхности вещества в вакууме при его возбуждении электронным пучком. Информативность метода - идентификация всех химических элементов, кроме водорода и гелия, - полуколичественный анализ, - определение химического состояния элемента, - высокая локальность ~10 нм, - глубина анализа от 5 до 50 A, - чувствительность метода – 1-3 ат.% Технические возможности установки определяются уникальным сочетанием высокодисперсионного цилиндрического анализатора с системой электростатических линз, ограничивающих область анализа, многоканального детектора Оже-электронов, уникального источника электронов. Ионная пушка с дифференциальной откачкой, встроенная в камеру анализа, позволяет очищать поверхности образцов от адсорбированных на воздухе примесей, а также осуществлять ионное травление образцов на глубину порядка 1 мкм. Низкое давление остаточных газов в камере анализа обеспечивается работой ионных насосов с высокой скоростью откачки, а также системой загрузки образца, предусматривающей предварительную его откачку в специальной камере и ввод образца в тестовую камеру без заметного повышения давления. Наличие устройства для скола образцов позволяет получать атомарно чистые поверхности в сверхвысоком вакууме. |
Заказать работу |
|
Полевой эмиссионный растровый электронный микроскоп JSM-6700F с приставкой энергодисперсионного микроанализатора JED-2300F фирмы «JEOl» | ЦКП "Материаловедение и металлургия" | Приборы для микроскопических исследований | Источник первичных электронов – холодноэмиссионная полевая пушка. Разрешение: - 3.5 nm при 15 кВ; - 0,22 нм при 1 кВ. Ускоряющее напряжение – 0,5-30 кВ. Максимальный размер образца 200х200 мм, устойчивое сверхвысокое разрешение по всей площади объекта. Рабочее расстояние – 1,5-25 мм. Вакуум в: - области источника 10-8 Па - в камере 10-5 Па Разрешение EDS – 133 эВ. Анализируемые элементы от B до U (количественный анализ). Высокое разрешение и высокое качество изображения позволяют проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур благодаря электронной пушке с холодным катодом, сверхвысокому вакууму и усовершенствованным цифровым технологиям. Приставка для энергодисперсионной спектрометрии JED-2300F позволяет осуществлять качественный и количественный анализ состава твердотельных структур с использованием метода энергодисперсионной спектрометрии. Использование программного обеспечения «Analysis Station» в операционной системе WINDOWS XP предполагает два варианта количественного анализа: 1 Функция «Дифференциальный фильтр + Метод наименьших квадратов + ZAF метод» использует справочные спектры элементов, 2 Функция «QBase» выполняет анализ, используя стандартные спектры минералов. |
Заказать работу |
|
Прибор для измерения вязкости AND SV-100 | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследования и определения физических свойств среды | Назначение и область применения AND SV-100 - это вибрационный вискозиметр, который обеспечивают широкий диапазон, высокую точность и оперативность измерений. Область применения - измерение динамической вязкости различных жидких сред в реальном масштабе времени при проведении научных исследований, а также на предприятиях химической, нефтеперерабатывающей, пищевой, фармацевтической парфюмерной и других отраслей промышленности. Принцип действия: Измерения вязкости проводятся с помощью метода камертонной вибрации. За основу измерений берётся величина электрического тока, необходимая для того, чтобы поддерживать постоянную амплитуду вибрации сенсорных пластин вискозиметра в жидкой среде. Подобный метод позволяет проводить измерения в режиме реального времени с отслеживанием изменений вязкости и температуры образца, что и обеспечивает широкие функциональные возможности данных приборов. Метод измерения : метод камертонной вибрации; Частота вибрации сенсорных пластин 30 Гц; Диапазон измерения 1 – 100 Па•c; Точность измерения вязкости ±5% (1000 – 100 000 мПа•c); Единица измерения вязкости Па•c, П; Повторяемость 1% Минимальный размер пробы 35 мл Измерение температуры 0 - 160°С (шаг 0,1°С) Точность измерения температуры 0-20°С: ±1°С 20-30°С: ±0,5°С 30-100°С: ±2°С 100-160°С: ±4°С Габаритные размеры, мм Основное устройство: 332 х 314 х 536 Выносной дисплей: 238 х 132 х 120 Масса прибора, кг, не более Основное устройство: 5 Выносной дисплей: 1,3 Тип дисплея Вакуумно-флуоресцентный Стандартный комплект поставки адаптер, диск с ПО, 4 чашки для образцов AX-SV-33, кабель RS-232C (25 pin-9 pin) Интерфейс Cтандартный RS-232C Источник электрического питания От сети 220 В, через адаптер Диапазон рабочих температур, °С от +10 до +40 |
Заказать работу |
|
Прибор синхронного термического анализа STA449 F1 Jupiter | Научно-исследовательская лаборатория "Неорганические наноматериалы" | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | • На данном приборе можно быстро и всесторонне проанализировать термостойкость образца, реакции разложения, состав, фазовые переходы, процессы плавления материалов • Легкая в использовании система вертикальной загрузки образцов, исключительно точное разрешение весов (разрешение 25 нг в диапазоне взвешивания 5г) • Взаимозаменяемые сенсоры для ДСК измерений с самой высокой чувствительностью и воспроизводимостью как для температур реакции/перехода и энтальпий, так и для теплоемкости. • Различные печи, легко взаимозаменяемые пользователем (дополнительное самоориентирующееся двойное спускоподъемное устройство для двух печей) • Съемные держатели образцов (ТГ, ТГ-ДСК, ТГ-ДТА, и.т.д.) • Автоматическое загрузочное устройство на 20 образцов • Функция Autovac: автоматическая откачка газа и автозаполнение газом • Множество различных принадлежностей, например, тигли различного размера, формы и выполенииые из различных метериалов • Уникальная возможность для СТА: температурно-модулированное ДСК (TM-ДСК)" Температура нагрева до 1500°С. |
Заказать работу |
|
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER | Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков | Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее | - Два источника рентгеновского излучения: 2,2 кВт рентгеновская трубка (медный анод) и 80 Вт источник с точечным фокусом, замкнутая система охлаждения, защитный кожух, обеспечивающий безопасную работу оператора; - приставка для рентгенотопографических исследований с системой анализа изображения; - кристаллодержатель, на котором возможно крепление и исследования 200 мм пластин: диапазон перемещения по осям X и Y – 150 мм с точностью ± 5 мкм; по оси Z – 12 мм и ± 5 мкм, соответственно; - точность перемещения по осям w и 2q - 0,055 угл. с; - компьютеризированная система управления прибором, которая дает возможность быстро перестраивать оптическую схему прибора, создавать сценарий эксперимента и контролировать его ход без участия оператора; - возможность быстрой перестройки оптической схемы дифрактометра позволяет за короткий промежуток времени провести комплексное рентгеноструктурное исследование образца; - детектор с большим динамическим диапазоном (107). | Заказать работу |
Рентгеновский микроанализатор Oxford Instruments INCA Energy 350 X-Max20 | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Предназначен для проведения энергодисперсионного микроанализа для растрового электронного микроскопа | Заказать работу | |
|
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI 5000 VersaProbe II | ЦКП "Материаловедение и металлургия" | Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие | Сканирующий рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI 5000 VersaProbe II предназначен для исследования химического состава на поверхности твердых тел с возможностью визуализации поверхности исследуемых объектов во вторичных электронах, формирования карт химического состояния и профилирования по глубине. |
Заказать работу |
|
Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный спектрометр UNISPEC SP1 | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Элементный анализ. Тип образцов – твердые жидкие, порошковые, пленки, фильтры. Диапазон определяемых элементов от Na до U. Чувствительность: от 1 ppm. Рентгеновская трубка Rh, 45 кВ. |
Заказать работу |
|
рН-метр Mettler Toledo Seven multi | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее | Диапазон измерения pH -2,000 … 20,000 -Относительная погрешность pH ±0,002 -Дискретность pH (задается пользователем) 0,001/0,01/0,1 -Диапазон измерения мВ -2000,0 … 2000,0 -Относительная погрешность мВ ±0,2 -Дискретность мВ (задается пользователем) 0,1/1 -Диапазон измерения концентрации ионов 1,00E-9 … 9,99E+9 -Точность измерения концентрации ионов ±0,5% -Температурный диапазон MTC -30,0 … 130,0°C -Температурный диапазон ATC -5,0 … 130,0°C -Точность измерения температуры ±0,1°C -Дисплей 4,3', цветной TFT -Внешний источник питания 9-12 В/10 Вт |
Заказать работу |
|
Сепаратор просеивающий СПЭ | Кафедра порошковой металлургии и функциональных покрытий | Оборудование для физических и физико-химических методов разделения | Предназначен для определения гранулометрического состава порошковых и зернистых проб сыпучих материалов при лабораторных исследованиях. Состоит из вибратора с электромагнитным приводом, набора сит, зажимного устройства и реле, устанавливающего продолжительность технологического режима работы. Для равномерного распределения материала по всей поверхности сеток и сокращения времени просева имеются наклонные элементы. Наличие размыкателя позволяет при необходимости прерывать процесс рассева на 2 ± 1 с. Технические характеристики: Крупность просеиваемого материала 2,5-0,04 мм; Размер сита: диаметр 200 мм; высота 25,5 мм; Число одновременно устанавливаемых сит до 10; Производительность просеиваемых проб массой 100 г - 5 проб/ч; Максимальная амплитуда колебаний по вертикали 3 мм |
Заказать работу |
|
Синхронный ТГ-ДТА/ДСК анализатор STA 409 Luxx | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Технические характеристики STA 409 PC Luxx: - Загрузка системы сверху; - Печь SiC (RT … 1550°C); - Скорости нагрева 0 … 50 K/мин; - Сенсоры TG – DTA; - Термопары образца Тип S; - Температурный интервал RT … 1550°C; - Масса образца до 18 г; - Предел измерения весов 18 г; - Атмосферы - инертная, воздух; - Вакуум 10-4 мбар. |
Заказать работу |
Система анализа поверхности органических, гибридных и биоматериалов | ЦКП "Материаловедение и металлургия" | Оборудование для изучения живых систем |
Заказ работ временно недоступен |
||
|
Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D Stand Аlone (Asylum Research) | ЦКП "Материаловедение и металлургия" | Приборы для микроскопических исследований | Микроскоп MFP 3DStand Аlone позволяет решать задачи в области физики, химии, материаловедения, исследования полимеров, нанолитографии, биологии и количественного анализа поверхности на наномасштабе. |
Заказать работу |
|
Сканирующий ионный микроскоп Strata FIB 205 System фирмы «FEI Company» | ЦКП "Материаловедение и металлургия" | Оборудование и приборы для масс-спектрометрии | Возможность готовить ультратонкие пробы (толщиной до 50 нм) для просвечивающего электронного микроскопа на локальных участках образца. Модификация и восстановление микросхем. |
Заказать работу |
|
Сканирующий электронный микроскоп HITACHI TM-1000 | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Приборы для микроскопических исследований | Ускоряющее напряжение: 15кВ. Увеличение: х20-10 000. Разрешение: 30 нм. Глубина резкости: 0,5 мм. Детектор: Твердотельный детектор обратнорассеяных электронов. Размер области обзора: X=15 мм, Y=18 мм. Максимальный размер образца: 70 мм в диаметре, 20 мм в высоту. Режимы: обычный (5•10-2 Па) или низкого вакуума ((30-50)•10-2 Па) для наблюдения образцов с низкой проводимостью или содержащих влагу биологических образцов. |
Заказать работу |
|
Сканирующий электронный микроскоп JSM7600F с системой микроанализа (ЭДС) | Научно-исследовательская лаборатория "Неорганические наноматериалы" | Приборы для микроскопических исследований | Термополевой катод (Шоттки), объективная линза с низкими аберрациями и высокая стабильность обеспечивают высокое разрешение и тонкий зонд даже при высоких токах пучка (свыше 200 нА при 15кВ). Разрешение до 1 нм. |
Заказать работу |
|
Совмещенный электро-акустический спектрометр Matec Zeta-APS | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Оборудование для акустических измерений | Совмещенный акустический и электроакустический спектрометр для анализа дзета-потенциала водных и органических жидкостей и определения распределения по размерам частиц суспензий, коллоидов и т.п. Методы анализа дзета-потенциала и распределения частиц по размерам: акустическая спектроскопия и электроакустический метод. Диапазон рабочих частот: не уже 1-100 МГц. Измерение распределения частиц по размерам, дзета-потенциала, концентрации твердой фазы, рН, проводимости, температуры, спектры скоростей и затухания звуковых волн. Диапазон размеров частиц: от 10 нм до 100 мкм Содержание дисперсной фракции: диапазон не уже 0,1 - 50%. Тип образцов: водные растворы, пигменты, чернила, минералы, эмульсии, оксиды металлов, катализаторы, наночастицы, фармацевтические препараты, биодисперсии и др. |
Заказать работу |
|
Спектрометр ИК–Фурье Thermo NICOLET 380 | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Для сочетания с TGA, химический анализ продуктов разложения полимеров и др. Спектральный диапазон не менее 7 400 – 350 см-1 Разрешение лучше 0,9 см-1 Соотношение сигнал-шум не хуже 20,000 : 1 (пик к пику при 1 минуте сканирования), сигнал-шум RMS 100,000:1 Точность по волновому числу 0,01 см-1 |
Заказать работу |
|
Спектрометр оптико-эмиссионный Bruker Q4 Tasman | НИЛ "Гибридные наноструктурные материалы" | Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее | Стационарный настольный оптико-эмиссионный спектрометр на базе новейшей технологии CCD (ПЗС), является идеальной аналитической системой для спектрального анализа металлов и сплавов и применяется в условиях исследовательских лабораторий и цеха. Спектрометр особенно подходит для входного контроля металлических материалов, на спектрометр можно одновременно установить калибровки для спектрального анализа металлов и сплавов на 7-ми наиболее важных металлических основах: Fe, Al, Cu, Ni, Co, Ti, V. | Заказать работу |
|
Спектрометр оптический эмиссионный Profiler-2 | НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН | Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее | Оптический эмиссионный спектрометр тлеющего разряда PROFILER-2 производства компании HORIBA Jobin Yvon (Франция) предназначен для поверхностного и послойного элементного анализа покрытий и объёмных материалов. Позволяет одновременно количественно определять широкий спектр элементов, в т. ч. газовые (N, O, H, Cl, F) и щелочные (Na, Li, K, Cs). Спектрометр оснащен ВЧ генератором, позволяющим проводить анализ в импульсном режиме, что обеспечивает возможность исследования материалов различной природы. В качестве образцов для анализа могут быть использованы как проводящие (металлы, сплавы, тугоплавкие соединения металлов), так и непроводящие материалы, в том числе хрупкие (оксидная керамика, стекла) и разлагающиеся при нагреве (полимеры). Спектрометр подходит для изучения различных покрытий, нанесенных вакуумными методами, диффузионным насыщением, лакокрасочных, газотермических, гальванических и др. Прибор может быть использован для исследования процессов высокотемпературного окисления, диффузионных процессов, электрохимической коррозии. Количество каналов – до 47, Спектральный диапазон - 110-620 (до 900) нм, Тип генератора – ВЧ, Полихроматор – Пашена-Рунге, Фокусное расстояние – 0,5 м, Решётка полихроматора – 2400 штр/мм, Система автоматического сканирования – Polyscan, Чувствительность – 1*10-4 ат. %, Детекторы – HDD, Зона анализа – 4 мм, Спектральное разрешение в УФ-области – лучше 0,018 нм, Программное обеспечение – Quantum XP, Глубина анализа – до 200 мкм, Разрешение по глубине – до 1-2 нм. |
Заказать работу |
|
Спектрофотометр «CARY 5000» UV-VIS-NIR с приставками «DRA-2500», «Vasra», «UMA» | МУИЛ п/п материалов и диэлектриков "Монокристаллы и заготовки на их основе" | Оборудование для исследования и анализа методом оптической спектроскопии | Спектральный диапазон измерений (175 – 3300) нм. Ппредел погрешности по шкале длин волн в диапазоне (175 - 900) нм - не хуже 0,1 нм, в диапазоне (900 - 3300) нм - не хуже 0,4 нм. Приставкка "DRA" Спектр. диапазон – 250 – 2500 нм, спектр. разрешение – 0,05 нм (ViS), 0,2 нм (NIR); погрешность установки длин волн – ± 0,1 нм (UV-ViS) ± 0,4 нм (NIR) Приставки для измерения диффузного («DRA-2500») и зеркального («Vasra») отражения. |
Заказать работу |
|
Спектрофотометр Genesys 10S UVVis | Лаборатория разделения и концентрирования в химической диагностике функционнальных материалов и объектов окружающей среды | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | 1) диапазон измерений спектрального коэффициента направленного пропускания – от 1,0 до 100 %; 2) диапазон показаний спектрального коэффициента направленного пропускания – от 0 до 125 %; 3) рабочий диапазон длин волн – 190-1100 нм; 4) источник света – ксеноновая импульсная лампа; 5) спектральная ширина щели 1,8 нм. |
Заказать работу |
|
Спектрофотометр Thermo Scientific Helios Alpha | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее | Двухлучевой, на кюветы 10 мм, встроенный ЖК монитор и клавиатура управления, рабочий диапазон 190 - 1100 нм. | Заказать работу |
|
Спектрофотометр СФ-103 | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Технические характеристики: - Спектральный диапазон длин волн, нм 190-1100 - Шаг установки длины волны, нм 0.1 - Точность установки длины волны во всём диапазоне, нм ±1 - Ширина выделяемого спектрального интервала, нм 5 - Диапазон измеряемых величин коэффициента пропускания, % оптической плотности, Б - 0 - 199,9; - от -0,300 до 1,999 - Рассеяние при 340 нм, не более, % 0.05 - Дрейф нулевого сигнала, Б/час 0,001 - Источник света видимый диапазон - УФ диапазон вольфрамовая галогеновая лампа дейтеривая лампа - Электропитание, В 115/230 (±20%) - Потребляемая мощность, не более, Вт 150 - Масса, кг 5 Условия эксплуатации: температура 15 - 30 0С; влажность 0 - 90% |
Заказать работу |
|
Твердомер для измерений по Роквеллу Buehler MacroMet 5101T | Межкафедральная лаборатория наноматериалов | Оборудование для определения механических свойств и величин | Измерение для всех шкал по Роквеллу (HRC, HRB), автоматическое управление весом. Класс точности, погрешность, %: 3. Пределы измерений: 0 - 80 HRC, 65-110 HRB, 0-93 HRA . |
Заказать работу |
|
Титратор «ТИТРИОН» - комплект для автоматического потенциометрического титрования | НУИЛ "Физико-химия угля" | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | - система весового титрования; - автоматический процесс титрования; - метод титрования - потенциометрический; - режим титрования - до заданной точки регистрация кривой дозирование заданного объема; - рН-электрод ; - Eh-электрод; - дискретность дозирования титранта 0,005 (0,001) см3; - максимальный объём титранта 120 (380) см3; - скорость дозирования титранта 0,05…2 см3/мин; - диапазон измерений ЭДС от минус 3200 до 3200 мВ ± 1,5 мВ; - диапазон измерений рН (рХ) 0…14 ± 0,2. |
Заказать работу |
|
Титратор автоматический Mettler Toledo DL15 | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Разрешающая способность по сигналу ±0,1 мВ Диапазон измерения ±1950 мВ Режимы и методики анализа: Титрование до конечной точки (заданная величина рН или mV) с динамическим или инкрементным (равными порциями) добавлением титранта Возможность выбора титрования ("Быстрый", "Нормальный", "Осторожный") Открытые параметры Контроль добавления титранта по времени и по равновесию Формулы для наиболее важных вычислений заложены в прибор Статистическая обработка (до 60 образцов) Дозирование: Сменные бюретки объемом 1, 5, 10, 20 мл Максимальное количество шагов дозирования на объем бюретки 1/10000 Время заполнения 20 с |
Заказать работу |
|
Установка для проведения коррозионно-электрохимических испытаний VoltaLab | НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН | Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее | Установка предназначена для изучения коррозионно-электрохимических свойств различных пар покрытие/металлическая подложка. Испытания соответствуют ISO 16429 и ГОСТ Р ИСО 10993-15-2001. Определение кинетики изменения потенциала покрытий позволяет выполнять оценку изменения содержания активных элементов на поверхности, а изучение катодно-анодного поведения покрытий - проводить расчеты скорости коррозии и прогнозировать их поведения в паре с металлическими подложками. Установка состоит из потенциостата, электрохимической термостатической ячейки и набора электродов. Потенциостат VoltaLab-50 предназначен для исследования любых электрохимических процессов, в частности, процессов осаждения и растворения металлов, электродных процессов в химических источниках тока, характеристики коррозионной стойкости различных материалов, вольтамперометрического и кулонометрического определения состава веществ и проведения других электрохимические измерений. Потенциостат имеет возможность задания потенциала или тока в стационарных и нестационарных режимах и регистрации стационарных и циклических вольтамперограмм, хроноамперограмм, хронопотенциограмм, кулонометрических кривых и проведения других электрохимических измерений. Управление потенциостатом осуществляется с помощью компьютера под упpавлением опеpационной системы Windows. Программное обеспечение позволяет осуществлять управление измерениями на потенциостате-гальваностате и управление внешними устройствами, задание и редактирование программ_алгоритмов измерений, графическое представление и запись результатов измерений в любом из режимов работ, полный анализ данных в различных координатах, преобразование исходных данных в другие форматы для обработки в других стандартных программах. Технические характеристики: Наличие режима гальваностата Есть; Выносной электрометрический усилитель Есть; Выходное напряжение 30 B; Поляризация 15 В; Максимальный ток 1 А; Чувствительность по току 300 фА; Диапазон скоростей развертки 0–20 В/c; Входное сопротивление 1012 Ом; Активная IR компенсация Есть |
Заказать работу |
|
Фотометр фотоэлектрический КФК-3-01 | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Диапазон длин волн, нм: 315-990 Диапазон измерения: коэффициента пропускания, %: 0,1 - 100 оптический плотности, Б: 0-3 концентрации, ед. конц.: 0.001 - 9999 Погрешность измерения коэффициента пропускания, %: 0,5 Ширина выделяемого спектрального интервала, нм: 5-7 Внешний выход: RS-232 порт принтера Индикация результатов измерения: цифробуквенный ЖКИ с подсветкой Источники питания: сеть 220 В; Потребляемая мощность, ВА, не более: 60 Габаритные размеры, мм: 500x360x165 Масса, кг, не более: 15 Габаритные размеры (с упаковкой), мм: 700x500x200 Общий вес (с упаковкой), кг: 16 |
Заказать работу |
|
Хроматограф газовый Кристалл 2000М | Кафедра цветных металлов и золота | Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее | Основные технические характеристики: - потребляемая мощность до 900 Вт; - масса - 34 кг; - скорость программирования 1-50 °С/мин; - частота 25 Гц; - расход водорода 5…300 мл/мин; - расход воздуха 5…800 мл/мин; - расход газа-носителя 5…200 мл/мин; - рабочая температура – от температуры окружающей среды +5 до 400°С; - время охлаждения от 300 до 50°С 7 минут; - входное давление 0,36…0,44 МПа; - выходной сигнал 0…10 мВ; - количество электронных регуляторов давления 1 шт; - дискретность задания температуры 0,1°С; - дискретность задания скорости программирования 0,1 °С/мин; - количество изотерм - 5 шт; - количество испарителей – до 2 шт; - количество детекторов – до 3 шт. |
Заказать работу |